| GB-电气、电子元器件、信息技术 |
| 标准 |
标准号 |
标准名称 |
| 1 |
GB／T 4728.1-1985 |
电气简图用图形符号 总则 |
| 2 |
GB／T 4728.2-1998 |
电气简图用图形符号 第2部分：符号 要素、限定符号和其它常用符号 |
| 3 |
GB／T 4728.3-1998 |
电气简图用图形符号 第3部分： 导体和连接器件 |
| 4 |
GB／T 4728.4-1999 |
电气简图用图形符号 无源组件 |
| 5 |
GB／T 4728.5-2000 |
电气简图用图形符号 半导体管和电子管 |
| 6 |
GB／T 4728.7-2000 |
电气简图用图形符号 开关、控制和保护器件 |
| 7 |
GB／T 4728.8-1984 |
电气简图用图形符号 测量仪表 灯和信号器件 |
| 8 |
GB／T 4728.12-1996 |
电气简图用图形符号 第12部分： 二进制逻辑单元 |
| 9 |
GB／T 4728.13-1996 |
电气简图用图形符号 第13部分： 模拟单元 |
| 10 |
GB／T 5094-1985 |
电气技术中的项目代号 |
| 11 |
GB／T 5465.1 |
电气设备用图形符号绘制原则 |
| 12 |
GB／T 5465.2-1996 |
电气设备用图形符号 |
| 13 |
GB／T 6988.4-1986 |
电气制图 电路图 |
| 14 |
GB／T 6988.5-1986 |
电气制图 接线图和接线表 |
| 15 |
GB／T 6988.7-1986 |
电气制图 逻辑图 |
| 16 |
GB／T 6994-1986 |
船舶电气设备一般规定 |
| 17 |
GB 7158-1987 |
电烙铁安全要求 |
| 18 |
GB／T 7357～7358-1998 |
船舶电气设备 系统设计 |
| 19 |
GB／T 3047.1-1995 |
高度进制为20mm的面板、架和柜的基本尺寸系列 |
| 20 |
GB／T 3047.4-1995 |
高席进制为44.45mm的插箱、插件的基本尺寸系列 |
| 21 |
GB／T 4026-1992 |
电气设备接线端子和特定导线线端的识别及应用字母数字系统的通则 |
| 22 |
GB／T 13534-1992 |
电气颜色标志的代号 |
| 23 |
GB／T 13381.1-1992 |
电气安装用导管的技术要求 通用要求 |
| 24 |
GB／T 13869-1992 |
用电安全导则 |
| 25 |
GB 14050-1993 |
系统接地型式及安全技术要求 |
| 26 |
GB／T 2422-1995 |
电工电子产品环境试验 术语 |
| 27 |
GB／T 4365-1995 |
电磁相容术语 |
| 28 |
GB／T 4859-1984 |
电气设备的抗干扰特性基本测量方法 |
| 29 |
GB 8702-1988 |
电磁辐射防护规定 |
| 30 |
GB 8898-1997 |
电网电源供电的家用和类似一般用途的电子及有关设备的安全要求 |
| 31 |
GB 17625.2-1999 |
电磁相容 限值 对定额电流不大于16A 的设备在低压供电系统中产生的电压波动和闪烁的限制 |
| 32 |
GB／T 17625.3-1999 |
电磁兼容 试验和测试技术 电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验 |
| 33 |
GB／T 17626.3-1998 |
电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁 场辐射抗扰度试验 |
| 34 |
GB／T 17626.5-1999 |
电磁兼容 试验和测试技术 浪涌(冲击) 抗扰度试验 |
| 35 |
GB／T 17626.12-1998 |
电磁兼容 试验和测量技术 振荡波抗扰度试验 |
| 36 |
GB／T 1772-1979 |
电子元器件失效率试验方法 |
| 37 |
GB／T 2036-1994 |
印制电路术语 |
| 38 |
GB／T 2471-1995 |
电阻器和电容器 优先系数 |
| 39 |
GB／T 2691-199l |
电阻器和电容器标志代号 |
| 40 |
GB／T 3388-1982 |
压电陶瓷材料型号命名方法 |
| 41 |
GB／T 4210-1984 |
电子设备用机电组件名词术语 |
| 42 |
GB／T 4475-1995 |
敏感元器件 术语 |
| 43 |
GB／T 4588.3-1988 |
印刷电路板设计和使用 |
| 44 |
GB／T 4588.4-1996 |
多层印制板 分规范 |
| 45 |
GB／T 4677.12-1988 |
印刷电路板互连电阻测试方法 |
| 46 |
GB／T 4677.16-1988 |
印刷电路板一般检验方法 |
| 47 |
GB／T 4706.1-1992 |
家用和类似用途电器的安全通用要求 |
| 48 |
GB／T 4793.1-1995 |
测量、控制和试验室用电气设备的安全要求 |
| 49 |
GB／T 5489-1985 |
印刷电路板制图 |
| 50 |
GB／T 5965-2000 |
半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 **篇 双极型单片数字集成电路门电路(不包括自由逻辑数组)空白详细规范 |
| 51 |
GB／T 6587.1 |
电子测量仪器 环境试验总纲 |
| 52 |
GB／T 6587.2 |
电子测量仪器 温度试验 |
| 53 |
GB／T 6587.3 |
电子测量仪器 湿度试验 |
| 54 |
GB／T 6587.4 |
电子测量仪器 振动试验 |
| 55 |
GB／T 6587.5 |
电子测量仪器 冲击试验 |
| 56 |
GB／T 6587.6 |
电子测量仪器 运输试验 |
| 57 |
GB／T 6587.7 |
电子测量仪器 基本安全试验 |
| 58 |
GB／T 6587.8 |
电子测量仪器 电源频率与电压试验 |
| 59 |
GB／T 6593-1996 |
电子测量仪器质量检验规则 |
| 60 |
GB／T 6833.1-1986 |
电子测量仪器电磁兼容性试验 规范总则 |
| 61 |
GB／T 6833.2 -1987 |
电子测量仪器电磁兼容性试验规范 磁场敏感度试验 |
| 62 |
GB／T 6833.3 -1987 |
电子测量仪器电磁兼容性试验规范 静电放电敏感度试验 |
| 63 |
GB／T 6833.4-1987 |
电子测量仪器电磁兼容性试验规范 电源瞬态敏感度试验 |
| 64 |
GB／T 6833.5 -1987 |
电子测量仪器电磁兼容性试验规范 辐射敏感度试验 |
| 65 |
GB／T 6833.6 -1987 |
电子测量仪器电磁兼容性试验规范 传导敏感度试验 |
| 66 |
GB／T 6833.7 -1987 |
电子测量仪器电磁兼容性试验规范 非工作状态磁场干扰试验 |
| 67 |
GB／T 6833.8 -1987 |
电子测量仪器电磁兼容性试验规范 工作状态磁场干扰试验 |
| 68 |
GB／T 6833.9 -1987 |
电子测量仪器电磁兼容性试验规范 传导干扰试验 |
| 69 |
GB／T 6833.10 -1987 |
电子测量仪器电磁兼容性试验规范 辐射干扰试验 |
| 70 |
GB／T 6991-1986 |
电子元器件可靠性资料表示法 |
| 71 |
GB／T 6993-1986 |
系统和设备研制生产中的可靠性程序 |
| 72 |
GB／T 7269-1987 |
电子设备控制台的布局、型式和基本尺寸 |
| 73 |
GB／T 9315—1988 |
印刷电路板外形尺寸系列 |
| 74 |
GB／T 11279-1989 |
电子元器件环境试验使用导则 |
| 75 |
GB／T 12631-1990 |
印刷导线电阻测试方法 |
| 76 |
GB／T 13584-1992 |
红外探测器参数测试方法 |
| 77 |
GB／T 15395-1994 |
电子设备机柜 通用技术条件 |
| 78 |
GB／T 15430-1995 |
红外探测器环境试验方法 |
| 79 |
GB／T 15647-1995 |
稳态可用性验证试验方法 |
| 80 |
GB／T 13965-1992 |
仪表元器件术语 |
| 81 |
GB／T 16261-1996 |
印刷电路板总规范 |
| 82 |
GB／T 17444-1998 |
红外焦平面数组特性参数测试技术规范 |
| 83 |
GB／T 17940-2000 |
半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 |
| 84 |
GB／T 11457-1989 |
软件工程术语 |
| 85 |
GB／T 14079-1993 |
软件维护指南 |
| 86 |
GB／T 14394-1993 |
计算机软件可靠性和可维护性 |
| 87 |
GB／T 15532-1995 |
计算机软件单元测试 |
| 88 |
GB／T 13423-1992 |
工业控制用软件评定准则 |
|
■其它类
|
| 1 |
SJ／T 10149-199l |
电子元器件图形库 半导体分立器件图形 |
| 2 |
SJ／T 10150-1991 |
电子元器件图形库 电阻器、电容器、电感器图形 |
| 3 |
SJ／T 10224-199l |
CAD绘制电子产品图样用图形和符号库 标准结构件图形 |
| 4 |
SJ／T 10225-1991 |
电子元器件图形库 机电元器件图形 |
| 5 |
QJ／T 1239-87 |
电子设备环境试验条件和方法 |
| 6 |
QJ／T 1693-1989 |
电子元器件防静电要求 |
| 7 |
QJ／T 1875-1990 |
静电测试方法 |
| 8 |
QJ／T 1950-1990 |
防静电操作系统技术要求 |
| 9 |
QJ／T 2245-1992 |
电子仪器和设备防静电要求 |
本文位置：试验解决方案
