二、 仪器总体结构
主要由投影箱,主壳体和工作台)三大部分构成。
2.1 投影箱:包括仪器的成像系统即物镜,反光镜M1与M2投影屏和SDS5-3PJ多功能资料测量处理电箱。投影屏旋转机构上装有角度感测器。
2.2 仪器主壳体:除支撑投影箱和工作台外,仪器的照明系统,电器控制系统,以及冷却风扇等均装上面。
2.3 仪器工作台:包括从(X轴)、横(Y轴)向运动(座标测量用)和垂向(Z轴)运动(调焦用)。X轴与Y轴配有解析度为0.001mm的光栅线位移感测器。
三、 仪器测量方法
投影仪测量方法概括为2类: 轮廓测量与座标测量.
3.1 轮廓测量
1) 用“标准放大图”进行比较测量
此法适用于形状复杂,批量大的零件检验。步骤为:
2) 按零件大小确定物镜倍率,再按零件设计图纸制作与物镜放大倍率相同比例的标准放大图,材料选用伸缩性较小的透明塑胶片.在图上还可以绘出允许的公差带,如零件尺寸在¢30左右,则制10:1的放大图,选用10X物镜进行测量.标准圆弧、角度、螺纹、齿形、网格、等放大图也有现成的可购买。
3) 将标准放大图用四只弹性压板在投影屏上.
4) 工件放在工作台上,调好焦.移动X、Y工作台使零件影像与放大图套准。
5) 若工作影像与放大图的偏差在公差带之内,则为合格.超出范围为不合格,偏差数值可以用X、Y座标测量出来。
6) 用格值为0.5mm标准玻璃工作尺(选购附件)在屏上直接测量工件影像的大小(小于格值部分也可用X、Y座标数显测出),除以物镜放大倍数即为工件的测量尺寸.
3.2 座标测量
工业用测量投影仪销售专线:0512-86887755,15950029919
投影仪工作原理被测工件Y置于工作台上,在透射或反射照明下,它由物镜0成放大实像Y′(倒像)并经光镜M1与M2反射于投影屏P的磨沙面上。当反光镜M1换成反像系统后,Y′即成为反像,一个与工件完全反向的影像,CM-300-C/D反像投影仪在屏上可用标准玻璃工作尺对Y′进行测量,也可以用预先绘制好的标准放大图对它进行比较测。测得的数值除以物镜的放大倍数即是工件的测量尺寸。还可以利用工作台上的数位测量系统对工件Y进行座标测量;也可利用投影屏旋转角度数显系统对工件的角度进行测量。
工业投影仪使用方法|投影仪测试方法|投影仪测量原理
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