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在DTA试验中，样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如：相转变，熔化，结晶结构的转变，沸腾，升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其他化学反应。
仪器特点：
1.仪器主控芯片采用ARM控制器，运算处理速度更快，温度控制更稳定。
2.采用USB双向通讯，操作更便捷。
3.采用7寸全彩LCD触摸屏，界面更友好。
4.采用镍铬合金传感器，更耐高温、抗腐蚀、抗氧化。
技术参数:
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温度范围 |
室温~1150℃ |
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量程范围 |
0～±2000μV（可以拓展） |
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DTA灵敏度 |
0.01μV |
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DTA精度 |
0.1 |
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升温速率 |
0.1～100℃/min |
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温度分辨率 |
0.01℃ |
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温度准确度 |
±0.1℃ |
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温度重复性 |
±0.1℃ |
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温度控制 |
升温：程序控制 可根据需要进行参数的调 整 恒温：程序控制 恒温时间任意设定 |
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炉体结构 |
炉体采用上开盖式结构，代替了传统的升降炉体，精度高，易于操作 |
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气氛控制 |
内部程序自动切换 |
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数据接口 |
标准USB接口 配套数据线和操作软件 |
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显示方式 |
24bit色 7寸 LCD触摸屏显示 |
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参数标准 |
配有标准物，带有一键校准功能，用户可自行对温度进行校正 |
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基线调整 |
用户可通过基线的斜率和截距来调整基线 |
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工作电源 |
AC 220V 50Hz（可定制其它规格） |